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SunScan植物冠層分析儀的結(jié)構(gòu)組成及優(yōu)缺點概述

發(fā)布時間： 2022-10-12　　點擊次數(shù)： 949次

　　植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米•秒上的微摩爾(μmols-1m-2)。

　　SunScan植物冠層分析儀的植被冠層上部數(shù)據(jù)(A)和植被冠層下部數(shù)據(jù)(B)由同一個傳感器測得。這種模式適合測量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類型，如低矮灌木、農(nóng)作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被類型的測定，測定可從測定林分周邊或內(nèi)部較大的空地開始，并作為喬木層之上的A值。植物冠層分析儀用最近的A值來計算透射率。如果條件穩(wěn)定，一個A值可以和幾個B值相對應(yīng)計算，如果天空情況變化較快，則在每次測B值之前，應(yīng)測量一個新的A值。

　　SunScan植物冠層分析儀采用了線性可調(diào)諧濾光片(LVF)分光;高速嵌入式系統(tǒng)，可以現(xiàn)場采集、處理數(shù)據(jù)，并且可以輸出作物葉綠素、氮素、水分含量的診斷結(jié)果，該儀器小巧美觀，操作起來非常方便。

　　不同的光照條件對儀器的測定結(jié)果會造成一定影響，通常要在多云天氣的較佳條件下進行測定以減少誤差，但是與直接測定法相比，植物冠層分析儀所測定的結(jié)果還是會明顯偏低，主要是由于冠層分析儀的測定需要在冠層葉片為隨機分布和林冠下層沒有反射和透射光輻射等假定條件下進行，受到林分冠層結(jié)構(gòu)的差異及光環(huán)境等因素的制約，冠層分析儀所測定的值通常都會比破壞性取樣法的測定值要低。

　　植物冠層分析儀如今在農(nóng)業(yè)已得到廣泛的應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于大田生產(chǎn)田間作物長勢監(jiān)測、農(nóng)產(chǎn)品、食品快速檢測、設(shè)施作物養(yǎng)分實時診斷等領(lǐng)域。

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